碳化硅透射尺寸检测

检测项目

1.外观尺寸测量：长度测量，宽度测量，厚度测量。

2.尺寸公差测试：长度公差，宽度公差，厚度公差。

3.平面度检测：表面平整度，局部起伏度，整体翘曲度。

4.平行度检测：上下表面平行度，边面平行度，基准面平行度。

5.垂直度检测：边面垂直度，孔壁垂直度，切边垂直度。

6.透射区域尺寸：有效透射区尺寸，透射窗口尺寸，透射边界尺寸。

7.孔径尺寸检测：通孔直径，盲孔深度，孔口倒角尺寸。

8.边缘尺寸检测：倒角尺寸，圆角尺寸，边缘厚度。

9.形貌尺寸检测：轮廓尺寸，曲率半径，台阶高度。

10.表面粗糙度测试：表面粗糙度值，峰谷高度，纹理方向一致性。

11.尺寸一致性检验：批次尺寸一致性，位置偏差，尺寸分布。

12.透射均匀性关联：透射均匀区尺寸，透射差异区尺寸，透射梯度范围。

检测范围

碳化硅透射片、碳化硅窗口片、碳化硅透射基片、碳化硅薄片、碳化硅晶片、碳化硅光学片、碳化硅透射板、碳化硅微孔片、碳化硅异形片、碳化硅抛光片、碳化硅切割片、碳化硅镀膜片、碳化硅样块、碳化硅试样、碳化硅透射组件、碳化硅通孔片、碳化硅小尺寸片、碳化硅大尺寸片、碳化硅精密片、碳化硅实验片

检测设备

1.光学测量仪：用于样品尺寸与边界轮廓的测量，支持非接触检测。

2.激光测距仪：用于长度与厚度的快速测量，具备高分辨率。

3.显微测量系统：用于微小结构尺寸与孔径的观察与测量。

4.轮廓测量仪：用于表面轮廓与台阶高度测量，支持曲线分析。

5.平面度测量仪：用于平整度与翘曲度测试，提供面形数据。

6.粗糙度测量仪：用于表面粗糙度参数的测定，反映表面加工质量。

7.厚度测量仪：用于样品厚度与均匀性测定，适合薄片检测。

8.透射成像装置：用于透射区域尺寸与均匀性观察，支持图像分析。

9.三维测量系统：用于三维尺寸与形貌测量，获取整体几何信息。

10.坐标测量设备：用于关键尺寸与位置度测量，适合精密结构检测。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.